Modélisation de l'électronique face à une impulsion électromagnétique // Electronics modeling exposed to en electromagnetic pulse

Les systèmes électroniques embarqués peuvent être soumis à des menaces électromagnétiques sévères (naturelles comme la foudre, artificielles comme l’exposition à des champs radio / radar, ou agressives d’origine militaire ou malveillantes) qui peuvent détériorer leur fiabilité et compromettre leur mission. Les systèmes électroniques ont ainsi des spécifications de tenue à des menaces, telles que les impulsions électromagnétiques (IEM) d’origine nucléaire haute altitude (IEMN-HA), ou de potentielles agressions électromagnétiques non nucléaires mais intentionnellement malveillantes. L’évaluation de leur vulnérabilité, et des performances des mesures de protection destinées à y pallier, impose de connaître les niveaux de susceptibilité intrinsèque des composants électroniques sensibles. L’évaluation prédictive du comportement des systèmes face à ce type d'agressions est un enjeu majeur tant vis-à-vis de leur sécurité, que pour la compréhension des phénomènes de défaillance.

Pôle fr : Direction des Applications Militaires
Pôle en : Military Applications
Département : DEA
Service : DEA
Laboratoire : DEA
Date de début souhaitée : 01-10-2026
Ecole doctorale : Génie Electrique - Electronique - Télécommunications (GEET)
Directeur de thèse : CAIGNET Fabrice
Organisme : LAAS CNRS
Laboratoire : LAAS CNRS
URL : https://www.laas.fr/fr/

Financement public/privé

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Pôle en : Military Applications
Département : DEA
Service : DEA

génie électrique, électronique